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用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

题目

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

  • A、球面干涉
  • B、等倾干涉
  • C、等厚干涉
相似考题

1.千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。

2.某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）A、0.01mmB、0.02umC、0.03um

3.调节等倾干涉条纹时，怎样判断是否观察到了严格的等倾干涉条纹？

4.用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉

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  • 第1题：

    等倾干涉花样和牛顿环相比，他们的中心明暗情况是（）

    • A、等倾干涉花样中心是亮的，牛顿环中心是暗的
    • B、等倾干涉和牛顿环干涉花样中心都是亮的
    • C、等倾干涉和牛顿环干涉花样的中心都是暗的
    • D、等倾干涉花样的中心可亮可暗，牛顿环干涉花样中心一定是暗的

    正确答案:C

  • 第2题：

    等倾干涉花样和牛顿环干涉花样干涉级分布是（）

    • A、等倾干涉，干涉级向外递增，牛顿环干涉级向外递减
    • B、等倾干涉，干涉级向外递减，牛顿环干涉级向外递增
    • C、等倾干涉和牛顿环干涉级都是向外递增
    • D、等倾干涉和牛顿环干涉级都是向外递减

    正确答案:B

  • 第3题：

    劈尖干涉是等厚干涉，干涉条纹是（）。


    正确答案:明暗相间的平行条纹

  • 第4题：

    外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定

    • A、光波法
    • B、光干涉法
    • C、光条纹法
    • D、干涉条纹法

    正确答案:B

  • 第5题：

    检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。


    正确答案:正确

  • 第6题：

    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

    • A、球面干涉
    • B、等倾干涉
    • C、等厚干涉

    正确答案:C

  • 第7题：

    用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。

    • A、干涉条纹尽量少
    • B、2条或4条
    • C、3条或5条

    正确答案:C

  • 第8题：

    单选题
    用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。
    A

    干涉条纹尽量少

    B

    2条或4条

    C

    3条或5条


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    等倾干涉花样和牛顿环干涉花样干涉级分布是（）
    A

    等倾干涉，干涉级向外递增，牛顿环干涉级向外递减

    B

    等倾干涉，干涉级向外递减，牛顿环干涉级向外递增

    C

    等倾干涉和牛顿环干涉级都是向外递增

    D

    等倾干涉和牛顿环干涉级都是向外递减


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    填空题
    技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。

    正确答案： 等厚干涉
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    劈尖干涉是等厚干涉，干涉条纹是（）。

    正确答案： 明暗相间的平行条纹
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。


    正确答案:越大

  • 第14题：

    迈克尔孙干涉仪的两块平面反射镜互相垂直时，从该干涉仪中观察到的干涉图样是一组同心圆圈，他们是（）

    • A、内圈的干涉级数高于外圈的等厚干涉条纹
    • B、内圈的干涉级数低于外圈的等厚干涉条纹
    • C、内圈的干涉级数高于外圈的等倾干涉条纹
    • D、内圈的干涉级数低于外圈的等倾干涉条纹

    正确答案:C

  • 第15题：

    关于牛顿环干涉条纹，下面说法正确的是：（）

    • A、是光的等倾干涉条纹；
    • B、是光的等厚干涉条纹；
    • C、条纹从内到外间距不变；
    • D、条纹由内到外逐渐变疏；

    正确答案:B

  • 第16题：

    技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。


    正确答案:等厚干涉

  • 第17题：

    在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。

    • A、0.001mm
    • B、0.002mm
    • C、0.003mm

    正确答案:B

  • 第18题：

    用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？


    正确答案: 产生光波干涉的条件是：
    ⑴频率相同的两光波在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差；
    ⑵两光波在相遇点所产生的振动的振幅（强度）相差不悬殊；
    ⑶两光波在相遇点的光程差不能太大，若其光程差大于所用实际光波的相干长度则无干涉现象。

  • 第19题：

    当光的入射角一定时，光程差仅与薄膜厚度有关的干涉现象叫等厚干涉。这种干涉条纹叫做等厚干涉条纹。劈尖干涉和牛顿环干涉均属此类。


    正确答案:正确

  • 第20题：

    单选题
    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    判断题
    检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定
    A

    光波法

    B

    光干涉法

    C

    光条纹法

    D

    干涉条纹法


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。
    A

    球面干涉

    B

    等厚干涉

    C

    等倾干涉


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

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