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用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的为大C、面积大的，当量反而要比面积小的要小D、它们的当量相等

题目

用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）

  • A、面积大的，当量也一定大
  • B、面积大的，当量不一定比面积小的为大
  • C、面积大的，当量反而要比面积小的要小
  • D、它们的当量相等
相似考题

1.用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。（）此题为判断题(对，错)。

2.用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、它们的当量相等

3.用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率

4.用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()

更多“用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的”相关问题

  • 第1题：

    在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。


    正确答案:正确

  • 第2题：

    用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的频率（）

    • A、越高越好
    • B、越低越好
    • C、不太高的频率
    • D、较寻常为高的频率

    正确答案:C

  • 第3题：

    斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为（）。

    • A、面积大于声束截面的当量一定大
    • B、面积小于声束截面的当量反而大
    • C、当量忽大忽小
    • D、以上都可能

    正确答案:B

  • 第4题：

    用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用不太高的频率。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时，随着缺陷面积的增大，反射波幅也随之增高。


    正确答案:错误

  • 第6题：

    用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头，用一次声探测钢制工件时，测得某缺陷的声程为141mm，求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度？（CL＝2730m/s；CS＝3250m/s）


    正确答案: 由公式sinα／CL＝sinβ/CS
    则sinα/2730＝sinβ/3250
    故：β＝arcsin（3250／2730×sin36.5°）≈45°
    又因为声S＝141mm
    故水平距离x=S×sinβ=141×sin45°＝100mm
    垂直距离y＝S×cosβ＝141×cos45°＝100mm
    缺陷水平距离100毫米，离探测面深度100毫米。

  • 第7题：

    用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。


    正确答案:正确

  • 第8题：

    在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时，随着缺陷面积的增大，则反射波幅（）。

    • A、增高
    • B、降低
    • C、不变
    • D、相等

    正确答案:B

  • 第9题：

    单选题
    用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。
    A

    愈高愈好

    B

    愈低愈好

    C

    不太高

    D

    较寻常时取高值


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    判断题
    用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）
    A

    面积大的，当量也一定大

    B

    面积大的，当量不一定比面积小的为大

    C

    面积大的，当量反而要比面积小的要小

    D

    它们的当量相等


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）
    A

    平行且靠近探测面

    B

    与声束方向平行

    C

    与探测面成较大角度

    D

    平行且靠近底面


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）

    • A、平行且靠近探测面
    • B、与声束方向平行
    • C、与探测面成较大角度
    • D、平行且靠近底面

    正确答案:C

  • 第14题：

    一般来说，要检出焊接板中沿熔化区取向的缺陷，最佳的超声检测方法是（）

    • A、用表面波、斜声束接触法
    • B、用横波、斜声束法
    • C、用表面波、水浸检测法
    • D、用纵波直声束接触法

    正确答案:B

  • 第15题：

    用单探头发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率是（）。

    • A、越高越好
    • B、越低越好
    • C、适当偏低的频率
    • D、较平常为高的频率

    正确答案:C

  • 第16题：

    斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。


    正确答案:大

  • 第17题：

    声束与缺陷主反射面所成的角度称为（）。

    • A、入射角
    • B、折射角
    • C、缺陷取向
    • D、反射角

    正确答案:C

  • 第18题：

    用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。

    • A、面积大的，当量也一定大
    • B、面积大的，当量不一定比面积小的大
    • C、面积大的，当量反而比面积小的小
    • D、相等

    正确答案:C

  • 第19题：

    选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直


    正确答案:正确

  • 第20题：

    用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。

    • A、愈高愈好
    • B、愈低愈好
    • C、不太高
    • D、较寻常时取高值

    正确答案:C

  • 第21题：

    判断题
    选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    判断题
    在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率（）。
    A

    越高越好

    B

    越低越好

    C

    不太高的频率

    D

    较寻常为高的频率


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第24题：

    问答题
    用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头，用一次声探测钢制工件时，测得某缺陷的声程为141mm，求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度？（CL＝2730m/s；CS＝3250m/s）

    正确答案： 由公式sinα／CL＝sinβ/CS
    则sinα/2730＝sinβ/3250
    故：β＝arcsin（3250／2730×sin36.5°）≈45°
    又因为声S＝141mm
    故水平距离x=S×sinβ=141×sin45°＝100mm
    垂直距离y＝S×cosβ＝141×cos45°＝100mm
    缺陷水平距离100毫米，离探测面深度100毫米。
    解析： 暂无解析

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