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更多“JB/T4730.4-2005标准对综合评级是如何规定的?”相关问题
  • 第1题:

    JB/T4730.4-2005标准对低、中、高填充因数线圈是如何区分的?


    正确答案: 低填充因数线圈:线圈的横截面积大于或等于被检工件横截面积的10倍。
    中填充因数线圈:线圈的横截面积大于2倍而小于10倍被检工件横截面积。
    高填充因数线圈:线圈的横截面积小于或等于2倍被检工件横截面积。

  • 第2题:

    JB/T4730.4-2005标准对安全防护有何要求?


    正确答案: ⑴轴向通电法和触头法检验不应在易燃易爆的场合使用;使用在其它地方,也应该预防起火燃烧。
    ⑵使用水磁悬液检测承压设备时,应防止绝缘不良或电器短路。
    ⑶使用荧光磁粉检测时,应避免黑光灯直接照射人的眼睛。
    ⑷使用干法检验时,要求通风良好,并应注意防尘。

  • 第3题:

    JB/T4730.4-2005标准规定磁场强度可以用哪几种方法确定?


    正确答案: ⑴用磁化电流表征的磁场强度按标准规定的经验公式计算;
    ⑵利用材料的磁特性曲线,确定合适的磁场强度;
    ⑶用磁场强度计测量施加在工件表面的切线磁场强度。连续法检测时应达到2.4kA/m~4.8kA/m,剩磁法检测时应达到14.4kA/m。
    ⑷用标准试片(块)来确定磁场强度是否合适。

  • 第4题:

    JB/T4730.4-2005标准规定对在用承压设备的磁粉检测有何要求?


    正确答案: 对在用承压设备进行磁粉检测时,如制造时采用高强度钢以及对裂纹(包括冷裂纹、热裂纹、再热裂纹)敏感材料;或是长期工作在腐蚀介质环境下,有可能发生应力腐蚀裂纹的场合,其内壁宜采用荧光磁粉检测方法进行检测。

  • 第5题:

    JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。


    正确答案:正确

  • 第6题:

    问答题
    根据JB/T4730.4-2005标准规定,标准试片的选用原则和使用方法如何?

    正确答案: 磁粉检测时一般应选用A1-30/100型标准试片。当检测焊缝坡口等狭小部位,由于尺寸关系,A型标准试片使用不便时,一般可选用C-15/50型标准试片。用户需要时可用D型标准试片,为了更准确地推断出被检工件表面的磁化状态,当用户需要或技术文件有规定时,可选用M1型标准试片。
    标准试片适用于连续磁化法,使用时,应将试片无人工缺陷的面朝外。为使试片与被检面接触良好,可用透明胶带将其平整粘贴在被检面上,并注意胶带不能覆盖试片上的人工缺陷。
    标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。
    解析: 暂无解析

  • 第7题:

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准对退磁是如何要求的?

    正确答案: 规定检测后加热至700℃以上进行热处理的工件,一般可不进行退磁。在下列情况下工件应进行退磁:
    ⑴当检测需要多次磁化时,如认定上一次磁化将会给下一次磁化带来不良影响;
    ⑵如认为工件的剩磁会对以后的机械加工产生不良影响;
    ⑶如认为工件的剩磁会对测试或计量装置产生不良影响;
    ⑷如认为工件的剩磁会对焊接产生不良影响;
    ⑸其他必要的场合。
    解析: 暂无解析

  • 第8题:

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准对安全防护有何要求?

    正确答案: ⑴轴向通电法和触头法检验不应在易燃易爆的场合使用;使用在其它地方,也应该预防起火燃烧。
    ⑵使用水磁悬液检测承压设备时,应防止绝缘不良或电器短路。
    ⑶使用荧光磁粉检测时,应避免黑光灯直接照射人的眼睛。
    ⑷使用干法检验时,要求通风良好,并应注意防尘。
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准对综合评级是如何规定的?

    正确答案: 在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时,应进行综合评级。对各类缺陷分别评定级别,取质量级别最低的级别作为综合评级的级别;当各类缺陷的级别相同时,则降低一级作为综合评级的级别。
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    判断题
    JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时一般应选用A1-60/100型标准试片。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准在确定磁化规范时对工件直径D是如何选取的?

    正确答案: ⑴当采用轴向通电法和中心导体法时,确定磁化规范公式中的D为工件横截面上最大截面尺寸;
    ⑵当采用偏置芯棒法时,确定磁化规范公式中的D为芯棒直径加2倍工件壁厚;
    ⑶当实心工件采用线圈法时,确定磁化规范公式中的D为工件横截面上最大截面尺寸;
    ⑷当空心工件采用线圈法时,确定磁化规范公式中的D为工件有效直径Deff。
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    判断题
    JB/T4730.4-2005标准规定:剩磁应不大于0.3mT(240A/m)。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    根据JB/T4730.4-2005标准规定,标准试片的选用原则和使用方法如何?


    正确答案: 磁粉检测时一般应选用A1-30/100型标准试片。当检测焊缝坡口等狭小部位,由于尺寸关系,A型标准试片使用不便时,一般可选用C-15/50型标准试片。用户需要时可用D型标准试片,为了更准确地推断出被检工件表面的磁化状态,当用户需要或技术文件有规定时,可选用M1型标准试片。
    标准试片适用于连续磁化法,使用时,应将试片无人工缺陷的面朝外。为使试片与被检面接触良好,可用透明胶带将其平整粘贴在被检面上,并注意胶带不能覆盖试片上的人工缺陷。
    标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。

  • 第14题:

    JB/T4730.4-2005标准规定当出现哪几种情况需要复验?


    正确答案: 出现下列情况之一时,需要复验:
    ⑴检测结束时,用标准试片验证检测灵敏度不符合要求时;
    ⑵发现检测过程中操作方法有误或技术条件改变时;
    ⑶合同各方有争议或认为有必要时。

  • 第15题:

    JB/T4730.4-2005标准对交流退磁方法是如何规定的?


    正确答案: 交流退磁法:将需退磁的工件从通电的磁化线圈中缓慢抽出,直至工件离开线圈1m以上时,再切断电源。或将工件放入通电的磁化线圈内,将线圈中的电流逐渐减小至零或将交流电直接通过工件并同时逐步将电流减到零。

  • 第16题:

    JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。


    正确答案:错误

  • 第17题:

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准规定当出现哪几种情况需要复验?

    正确答案: 出现下列情况之一时,需要复验:
    ⑴检测结束时,用标准试片验证检测灵敏度不符合要求时;
    ⑵发现检测过程中操作方法有误或技术条件改变时;
    ⑶合同各方有争议或认为有必要时。
    解析: 暂无解析

  • 第18题:

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准规定对在用承压设备的磁粉检测有何要求?

    正确答案: 对在用承压设备进行磁粉检测时,如制造时采用高强度钢以及对裂纹(包括冷裂纹、热裂纹、再热裂纹)敏感材料;或是长期工作在腐蚀介质环境下,有可能发生应力腐蚀裂纹的场合,其内壁宜采用荧光磁粉检测方法进行检测。
    解析: 暂无解析

  • 第19题:

    判断题
    JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测用的磁探机应定期进行校验,并有记录可查。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第20题:

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准对交流退磁方法是如何规定的?

    正确答案: 交流退磁法:将需退磁的工件从通电的磁化线圈中缓慢抽出,直至工件离开线圈1m以上时,再切断电源。或将工件放入通电的磁化线圈内,将线圈中的电流逐渐减小至零或将交流电直接通过工件并同时逐步将电流减到零。
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准对低、中、高填充因数线圈是如何区分的?

    正确答案: 低填充因数线圈:线圈的横截面积大于或等于被检工件横截面积的10倍。
    中填充因数线圈:线圈的横截面积大于2倍而小于10倍被检工件横截面积。
    高填充因数线圈:线圈的横截面积小于或等于2倍被检工件横截面积。
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    问答题
    JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

    正确答案: 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    判断题
    JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析