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把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
题目
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
相似考题
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第1题：
荧光样品制备注意事项有（）。
- A、试样代表性
- B、试样均匀性
- C、试样洁净度
- D、标准样品与未知样品的制备方法须一致
正确答案:A,B,D -
第2题：
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
正确答案:正确 -
第3题：
种子净度分析标准中的精确法把供试样品分为（）。
正确答案:好种子、废种子 、有生命杂质和无生命杂质 -
第4题：
目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。
- A、压片法
- B、薄膜法
- C、熔融制样法
- D、离心浇铸法
正确答案:A,C -
第5题：
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
正确答案:矿物效应 -
第6题：
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
正确答案:正确 -
第7题：
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
正确答案:错误 -
第8题：
X荧光分析法可以分析下列哪些样品类型（）。
- A、固体
- B、气体
- C、粉末
- D、液体
正确答案:A,C,D -
第9题：
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。
- A、特征光谱
- B、散射线
- C、带状光谱
- D、连续光谱
正确答案:D -
第10题：
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。
- A、100目
- B、120目
- C、150目
- D、180目
正确答案:D -
第11题：
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
正确答案:熔融法 -
第12题：
判断题用已知准确含量的标准样品代替试样，按照样品的分析步骤和条件进行分析的试验叫做对照试验。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第13题：
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
- A、组成
- B、制样方法
- C、样品无裂纹
- D、样品无气孔
正确答案:A,B -
第14题：
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
- A、均匀性
- B、粒度效应
- C、辐射
- D、吸收-增强效应
正确答案:B,D -
第15题：
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
正确答案:正确 -
第16题：
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
正确答案: 对分析面的要求是表面平整、纹路一致、光洁度高、无气孔、无裂纹、无夹渣。 -
第17题：
用于分析钢中氧的试样应制成（）。
- A、粉末样
- B、钻屑样
- C、块状样
正确答案:C -
第18题：
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
- A、粒度效应
- B、吸收
- C、增强
- D、矿物效应
正确答案:A,D -
第19题：
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
正确答案:错误 -
第20题：
X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
正确答案: （1）有足够的代表性；
（2）试样均匀；
（3）表面平整、光洁、无裂纹；
（4）试样有足够的厚度；
（5）在X射线照射及真空条件下，试样稳定不变形，不起化学变化。 -
第21题：
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
正确答案:标准样品 -
第22题：
X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。
- A、粒度效应
- B、矿物效应
- C、酸度变化
正确答案:A,B -
第23题：
用已知准确含量的标准样品代替试样，按照样品的分析步骤和条件进行分析的试验叫做对照试验。
正确答案:正确