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更多“简要比较衍射仪法与德拜照相法的特点。”相关问题
  • 第1题:

    现场照相的一般方法有()?

    • A、相向照相法
    • B、多向照相法
    • C、分段连续照相法
    • D、回转连续照相法
    • E、比例照相法

    正确答案:A,C,E

  • 第2题:

    单选题
    最常用的X射线衍射方法是()。
    A

    劳厄法;

    B

    粉末多法;

    C

    周转晶体法;

    D

    德拜法。


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第3题:

    问答题
    试述衍射仪在入射光束、试样形状、试样吸收,以及衍射线记录等方面与德拜法有何异同?测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30°角时,计数管与入射线成多少度角?

    正确答案: 衍射仪记录花样与德拜法有很大区别。首先,接收X射线方面衍射仪用辐射探测器,德拜法用底片感光;其次衍射仪试样是平板状,德拜法试样是细丝。衍射强度公式中的吸收项μ不一样。第三,衍射仪法中辐射探测器沿测角仪圆转动,逐一接收衍射;德拜法中底片是同时接收衍射。相比之下,衍射仪法使用更方便,自动化程度高,尤其是与计算机结合,使得衍射仪在强度测量、花样标定和物相分析等方面具有更好的性能。
    测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30°角时,计数管与入射线成60度角。因为工作时,探测器与试样同时转动,但转动的角速度为2:1的比例关系。
    解析: 暂无解析

  • 第4题:

    问答题
    衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同?

    正确答案: 入射X射线的光束:都为单色的特征X射线,都有光栏调节光束。不同:衍射仪法:采用一定发散度的入射线,且聚焦半径随2θ变化,德拜法:通过进光管限制入射线的发散度。试样形状:衍射仪法为平板状,德拜法为细圆柱状。试样吸收:衍射仪法吸收时间短,德拜法吸收时间长,约为10~20h。记录方式:衍射仪法采用计数率仪作图,德拜法采用环带形底片成相,而且它们的强度(I)对(2θ)的分布(I-2θ曲线)也不同。
    解析: 暂无解析

  • 第5题:

    问答题
    简要比较衍射仪法与德拜照相法的特点。

    正确答案: 与德拜照相法相比,衍射仪法所具有的特点:简便快速、灵敏度高、分辨能力强、直接获得强度I和d值、低角度区的2θ测量范围大、样品用量大、对仪器稳定的要求高。
    解析: 暂无解析

  • 第6题:

    问答题
    比较X射线粉末多晶衍射仪法测定物质晶体结构与单晶衍射法测定物质晶体结构。

    正确答案: 多晶法样品制备、衍射实验和数据处理简单,但只能完成对晶体晶系的确定、衍射花样指数标定,点阵参数测定等结构测定中的部分工作,所以,多晶衍射只能进行简单晶体结构测定或复杂结构晶体测定的部分工作。
    单晶衍射法样品制备、衍射实验和数据处理复杂,但可测定复杂结构。
    解析: 暂无解析

  • 第7题:

    填空题
    德拜法衍射花样的测量主要是测量衍射线条的()和(),然后在计算出θ角和晶面间距。

    正确答案: 相对位置,相对强度
    解析: 暂无解析

  • 第8题:

    问答题
    由于德拜屏蔽,带电粒子的库仑势被限制在德拜长度内,这是否意味着粒子与德拜球外粒子无相互作用?为什么?

    正确答案: 有,但是表现为集体相互作用,实际上屏蔽本身可以视为相互作用的传递过程,粒子对德拜球外的粒子的相互作用,通过周围屏蔽粒子的传递而作用。
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    多选题
    现场照相的一般方法有()?
    A

    相向照相法

    B

    多向照相法

    C

    分段连续照相法

    D

    回转连续照相法

    E

    比例照相法


    正确答案: D,B
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  • 第10题:

    多选题
    X射线衍射方法包括下列哪几种?()
    A

    劳厄法

    B

    粉晶法

    C

    德拜法

    D

    转晶法


    正确答案: C,A
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    问答题
    试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度(公式)、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。

    正确答案: 入射X射线的光束:都为单色的特征X射线,都有光栏调节光束。
    不同:衍射仪法:采用一定发散度的入射线,且聚焦半径随2θ变化,德拜法:通过进光管限制入射线的发散度。试样形状:衍射仪法为平板状,德拜法为细圆柱状。试样吸收:衍射仪法吸收时间短,德拜法吸收时间长,约为10~20h。记录方式:衍射仪法采用计数率仪作图,与计算机连接可实现自动记录和衅谱处理,德拜法采用环带形底片成相,而且它们的强度(I)对(2θ)的分布(I-2θ曲线)也不同,衍射仪图谱中强度或直接测量精度高,且可获得绝对强度;衍射装备:衍射仪结构复杂成本高,德拜法结构简单造价低;应用:衍射仪与计算机连接,通过许多软件可获得各种信息而得到广泛应用。
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    填空题
    德拜照相法中的底片安装方法有:正装、反装和()三种。

    正确答案: 偏装
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    粉晶衍射仪法


    正确答案: 利用X射线的电离效应及荧光效应,由辐射探测器(各种计数器)来测定记录衍射线的方向和强度。

  • 第14题:

    问答题
    请比较衍射仪法与德拜法的特点。

    正确答案: 德拜法的优点:
    1.所需样品极少
    2.样品所有衍射线条,出很小一部分外,几乎能全部同时记录在一张底片上
    3.通过调整样品的吸收系数,保持相当高的测量精度
    衍射仪法的优点:
    1)简便快速:衍射仪法都采用自动记录,不需底片安装、冲洗、晾干等手续。
    2)分辨能力强:测角仪圆半径一般为185mm远大于德拜相机的半径(57.3/2mm),因而衍射法的分辨能力比照相法强得多。
    3)直接获得强度数据:不仅可以得出相对强度,还可测定绝对强度。
    4)低角度区的2θ测量范围大
    5)样品用量大
    6)设备较复杂,成本高。
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  • 第15题:

    单选题
    下列哪一项不是X射线衍射的方法()
    A

    劳厄法

    B

    粉晶法

    C

    德拜法

    D

    转晶法


    正确答案: C
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  • 第16题:

    单选题
    不利于提高德拜相机的分辨率的是()。
    A

    采用大的相机半径;

    B

    采用X射线较长的波长;

    C

    选用大的衍射角;

    D

    选用面间距较大的衍射面。


    正确答案: D
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  • 第17题:

    问答题
    试用厄瓦尔德图解来说明德拜衍射花样的形成。

    正确答案: 样品中各晶粒的同名(HKL)面倒易点集合成倒易球面,倒易球与反射球相交为一圆环。晶粒各同名(HKL)面的衍射线以入射线为轴、2θ为半锥角构成衍射圆锥。不同(HKL)面的衍射角2θ不同,构成不同的衍射圆锥,但各衍射圆锥共顶。用卷成圆柱状并与样品同轴的底片记录衍射信息,获得的衍射花样是衍射弧。
    解析: 暂无解析

  • 第18题:

    问答题
    试总结德拜法衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。

    正确答案: 德拜法衍射花样的背底来源是入射波的非单色光、进入试样后出生的非相干散射、空气对X射线的散射、温度波动引起的热散射等。采取的措施有尽量使用单色光、缩短曝光时间、恒温试验等。
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  • 第19题:

    问答题
    粉末照相法中应用最广的方法是什么方法?其衍射照片特征?

    正确答案: 徳拜法;德拜衍射图:长条形底片上的一系列圆弧。
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  • 第20题:

    单选题
    在射线检测中,利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为()
    A

    直接照相法

    B

    间接照相法

    C

    透过照相法

    D

    荧光照相法


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    问答题
    比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。

    正确答案: 多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理,多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布,因此只需要测角仪与样品检测器为θ~2θ联动,就可检测到晶体参数;而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动,调整单晶的各个晶面产生衍射,检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数,主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布,进而推断出分子的结构。
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    问答题
    什么是衍射仪法?

    正确答案: 衍射仪法:用单色X射线照射多晶或转动的单晶试样,用探测器和探角仪探测衍射线的强度位置,并将它们转变为电信号,然后进行自动记录或用计算机进行自动分析处理。
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  • 第23题:

    问答题
    衍射仪法它有什么用途?

    正确答案: 衍射仪法用途:X射线衍射分析的所有应用,物相分析,结构分析,单晶分析,测定相图、固溶度,测定晶粒大小应力应变等情况。
    解析: 暂无解析