用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。

第1题：

用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度，测量结果可能产生一个合格，一个不合格。

第2题：

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。

第3题：

怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？

第4题：

对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

第5题：

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？

第6题：

第7题：

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整

• A、直线形
• B、圆形
• C、平行的弧线
• D、直线形、圆形和平行的弧线

第14题：

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？

第15题：

测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？

第16题：

测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？

第17题：

千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。

第18题：

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：