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以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）A、封闭式正比计数器B、流气式正比计数器C、闪烁计数器D、半导体计数器

题目

以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）

  • A、封闭式正比计数器
  • B、流气式正比计数器
  • C、闪烁计数器
  • D、半导体计数器
相似考题

1.近距离照射放射源强度校准最好使用（）A、指型电离室B、半导体探测器C、井行电离室D、闪烁计数器E、正比计数器

2.高强度辐射场中进行精确剂量测量应使用（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器

3.灵敏度最低的是（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器

4.常用场所辐射监测仪中灵敏度最高的是（）A、电离室B、正比计数器C、GM计数器D、闪烁探测器E、半导体探测器

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  • 第1题：

    流气式正比计数器使用的P10气体是（）混合气体。


    正确答案:90%的氩气和10%的甲烷

  • 第2题：

    波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。

    • A、闪烁
    • B、半导体
    • C、流气式
    • D、光电倍增管

    正确答案:A,C

  • 第3题：

    密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）

    • A、指形电离室
    • B、半导体探测器
    • C、中子探测器
    • D、闪烁计数器
    • E、正比计数器

    正确答案:D

  • 第4题：

    用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：（）

    • A、Si-PIN探测器
    • B、Si（Li）探测器
    • C、硅漂移探测器（SDD）
    • D、正比计数器

    正确答案:A,B,C

  • 第5题：

    能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。

    • A、能量
    • B、波长
    • C、半导体
    • D、计数

    正确答案:A,C

  • 第6题：

    X射线法分析生铁中的锰元素，所用检测器是（）。

    • A、闪烁计数器
    • B、气流式正比计数器
    • C、封闭式正比计数器

    正确答案:C

  • 第7题：

    在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。

    • A、正比计数器
    • B、闪烁计数器
    • C、晶体计数器
    • D、半导体探测器

    正确答案:C

  • 第8题：

    X荧光光谱仪探测器的分辨率R=Q，Q为品质因子，当计数率＜20kcps时，闪烁计数器的Q＜（），充Ar流气正比计数器的Q＜（）。


    正确答案:120、45

  • 第9题：

    流气正比计数器适用于（）和长波辐射的探测（0.1-8keV）。


    正确答案:轻元素

  • 第10题：

    X-荧光波谱分析仪（品位仪）的检测器一般有（）

    • A、正比计数器
    • B、闪烁计数器
    • C、光电倍增管
    • D、数码管

    正确答案:A,B

  • 第11题：

    单选题
    密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）
    A

    指形电离室

    B

    半导体探测器

    C

    中子探测器

    D

    闪烁计数器

    E

    正比计数器


    正确答案： E
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（）
    A

    正比计数器

    B

    盖革计数器

    C

    闪烁计数器

    D

    锂漂移硅检测器


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    正比计数器（流气式或封闭式）、（）、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。


    正确答案:闪烁计数器

  • 第14题：

    密封放射检测源是否泄漏或被污染，通常使用的探测器是（）

    • A、指型电离室
    • B、半导体探测器
    • C、中子探测器
    • D、闪烁计数器
    • E、正比计数器

    正确答案:D

  • 第15题：

    以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）

    • A、电离室
    • B、正比计数器
    • C、盖革-弥勒记数管
    • D、闪烁探测器

    正确答案:D

  • 第16题：

    波长色散X射线荧光光谱仪的流气正比计数器经长时间使用，其芯线-阳极丝要被污染，造成阳极丝的污染有由气体中的（）和淬灭气体甲烷的（）造成的等两种情况。

    • A、杂质
    • B、还原性
    • C、分解
    • D、碳粒

    正确答案:A,C

  • 第17题：

    X荧光仪中探测器通常采用（）

    • A、光电倍增管
    • B、闪烁计数器
    • C、正比计数器
    • D、NaCl晶体

    正确答案:B,C

  • 第18题：

    X荧光分析中不常使用的探测器是（）。

    • A、正比计数器
    • B、闪烁计数器
    • C、晶体计数器
    • D、硅（锂）探测器

    正确答案:C

  • 第19题：

    请以流气正比计数器为例说明逃逸峰的产生过程。


    正确答案: 当从晶体衍射出来的特征X射线荧光能量大于或等于Ar气的K层电子激发电位时，可以使Ar气产生ArKα线，Ar气对ArKα线吸收的可能性很小，就是说ArKα线能量从探测器逸出而损失，剩余的能量被探测器检测，产生的峰称为特征X射线的逃逸峰。逃逸峰的能量等于待测元素的能量减去ArKα的能量

  • 第20题：

    常用的X射线正比计数器分为（）和（）两大类，。


    正确答案:充气型；流气型

  • 第21题：

    X-荧光波谱分析仪（品位仪）的检测器一般有（）

    • A、正比计数器
    • B、闪烁计数器
    • C、光电倍增管

    正确答案:A,B

  • 第22题：

    单选题
    以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）
    A

    电离室

    B

    正比计数器

    C

    盖革-弥勒记数管

    D

    闪烁探测器


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    简要叙述半导体探测器的能量分辨率明显优于正比计数器和闪烁计数器的主要原因。

    正确答案： 在损耗相同能量的情况下，在PN结半导体探测区中所收集到的电荷数N比在电离室中约多一个数影集。由于收集到的电荷多，不仅信号幅度大，而且起伏涨落相对变化减少，能力分辨率将变电子。在一般情况下，能量分辨率W½与电荷数N有下面的关系：W½∝½1/!N因此，N越大，即收集到的电荷数因越多，W½就越小，能量分辨率就越好。既然半导体中形成的电子—空穴对多，那么它的能量分辨率就要优于电离室。
    解析： 暂无解析

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