第1题:
第2题:
第3题:
第4题:
第5题:
第6题:
第7题:
第8题:
第9题:
第10题:
第11题:
()导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试,应不大于200mΩ且初值差不大于50%。
第12题:
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试,应不大于()且初值差不大于50%。
第13题:
第14题:
第15题:
第16题:
第17题:
第18题:
第19题:
第20题:
第21题:
第22题:
独立避雷针导通电阻低于()mΩ时应进行校核测试。
第23题:
独立避雷针每年进行接地导通检测,导通电阻小于或等于500mΩ时是否进行了校核测试。