关于X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是
A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况
B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况
C.常用的检测方法有RMS的测量
D.常用的检测方法有维纳频谱的测量
E.MTF用来测量颗粒度
第1题:
对X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是
A.主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况
B.客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况
C.常用的检测方法有RMS的测量
D.常用的检测方法有维纳频谱的测量
E.MTF用来测量颗粒度
第2题:
关于X线照片颗粒度的叙述,错误的是
A.物理测定值为颗粒度
B.X线量子斑点影响照片颗粒性
C.X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声
D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素
E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录
第3题:
第4题:
所谓X线照片噪声,是指
A.荧光体颗粒
B.乳剂银颗粒
C.银颗粒、荧光体颗粒组合
D.X线照片斑点
E.X线照片的颗粒度
第5题:
关于X线照片颗粒度的叙述,错误的是
A.物理测定值为颗粒度
B.X线量子斑点影响照片颗粒性
C.X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声
D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素
E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片E记录