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下列SPECT空间线性测试步骤错误的一项A、探头去准直器,加铅栅模型,点源置于5倍探头视野的距离外,与中轴对齐B、铅栅平行X方向,设置20%中心能量窗,128矩阵,1000k以上计数,采集图像C、转动铅栅模型使之平行于Y方向,重复图像采集;去掉点源、铅栅模型,换上准直器D、直观铅栅图像,并与参考图像相比照,粗略判断线条有无畸形E、计算XY方向每一个铅槽图像的线扩展函数峰值的位置,并计算出绝对线性和微分线性

题目

下列SPECT空间线性测试步骤错误的一项

A、探头去准直器,加铅栅模型,点源置于5倍探头视野的距离外,与中轴对齐

B、铅栅平行X方向,设置20%中心能量窗,128矩阵,1000k以上计数,采集图像

C、转动铅栅模型使之平行于Y方向,重复图像采集;去掉点源、铅栅模型,换上准直器

D、直观铅栅图像,并与参考图像相比照,粗略判断线条有无畸形

E、计算XY方向每一个铅槽图像的线扩展函数峰值的位置,并计算出绝对线性和微分线性


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  • 第1题:

    下列有关系统平面灵敏度的描述,错误的是

    A、描述探头对源的响应能力

    B、指某一探头对特定点源的灵敏度

    C、用单位活度在单位时间内的计数表示

    D、系统平面灵敏度也称灵敏度

    E、与准直器的类型、窗宽、源的种类及形状有关


    参考答案:B

  • 第2题:

    下列有关探头屏蔽性能的描述,错误的是

    A、描述探头对视野之外的源的屏蔽能力

    B、对患者本身FOV之外放射性的屏蔽:用与探头平面的垂直距离为20cm点源,在距探头FOV边缘前后10cm、20cm、30cm的最大屏蔽计数与在 FOV中心处计数率的百分比表示

    C、对周围环境放射性的屏蔽:将点源置于距探头中心1m,距探头两侧及前后2m处。用探头分别朝上、下、左、右时的计数率与FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽性能

    D、屏蔽泄漏一最大屏蔽计数率/FOV中心计数率×100%

    E、探头屏蔽性能反映了患者本身FOV 之外放射性和周围环境放射性这两种影响的程度


    参考答案:C

  • 第3题:

    下列SPECT分辨率测试步骤(铅栅型)错误的一项

    A、探头去准直器,加铅栅模型,对正X、Y 方向

    B、置放点源于5倍探头视野的距离之外,与中轴对齐

    C、设置20%中心能量窗,128矩阵,1000k 以上计数,采集图像

    D、依次90°转动模型,重复采集图像,直至4个方位完成,去掉点源铅栅,换上准直器

    E、所能看见的最小线条即为铅栅分辨率, FWHM=0.5×最小铅栅间隔


    参考答案:E

  • 第4题:

    SPECT均匀性校正操作过程错误的一项是

    A、点源活度0.3~0.5mCi,体积≤1ml,计数率≥30k/s

    B、将探头准直器去掉,按厂家要求给探头加铅框和有机玻璃罩

    C、置放点源于5倍探头视野的距离之外,对准视野中心

    D、20%中心能窗,64矩阵,计数1000k以上

    E、收起点源,换上准直器,用软件求出视野内的最大计数与最小计数


    参考答案:A

  • 第5题:

    下列SPECT分辨率测试步骤(半高宽型)错误的一项

    A、探头去准直器,平行于X方向将模型置于视野中间,设置20%居中能窗,128矩阵,1000k以上计数,采集图像

    B、平行于Y方向置放模型,重复采集;去掉线源模型,精确测量模型上两线源之间的距离

    C、垂直于线源图像勾画3个像素宽的剖面线,求出剖面线上每一个像素的计数值,并将每个像素的计数值绘制在坐标纸上组成正态分布曲线

    D、测量坐标纸上两个波峰之间像素数,测量其中一正态分布曲线1/2峰高处的像素数

    E、用模型上两线源之间的精确距离除以图像上两峰值之间的像素数,得出像素尺寸,然后用正态分布曲线1/2峰高处宽度的像素数乘以像素尺寸即得到FWHM


    参考答案:A