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SPECT均匀性校正操作过程错误的一项是A、点源活度0.3～0.5mCi，体积≤1ml，计数率≥30k/sB、将探头准直器去掉，按厂家要求给探头加铅框和有机玻璃罩C、置放点源于5倍探头视野的距离之外，对准视野中心D、20%中心能窗，64矩阵，计数1000k以上E、收起点源，换上准直器，用软件求出视野内的最大计数与最小计数

题目

SPECT均匀性校正操作过程错误的一项是

A、点源活度0.3～0.5mCi，体积≤1ml，计数率≥30k/s

B、将探头准直器去掉，按厂家要求给探头加铅框和有机玻璃罩

C、置放点源于5倍探头视野的距离之外，对准视野中心

D、20%中心能窗，64矩阵，计数1000k以上

E、收起点源，换上准直器，用软件求出视野内的最大计数与最小计数

相似考题

1.下列关于SPECT平面显像常规维护与预防性质量控制措施，错误的一项是A、能峰设定使用放射性点源或泛源均可，探头加准直器或不加准直器都行B、每日均匀性测定，去准直器加盖保护罩，置放点源，矩阵128×128，总计数1000KC、数据库管理包括患者数据清理与数据库重设D、环境要求主要强调以下四点：温度、湿度、无尘和无阳光直射E、仪器外部要保持清洁，内部线路除尘要由维护工程师来定期进行

2.下列有关系统容积灵敏度的描述，错误的是A、反映SPECT断层成像的计数效率B、对均匀体源成像，系统容积灵敏度为总体积内所有断层计数之和与源的放射性浓度之比C、与源模型的大小形状无关D、核素的能量、衰减、散射会影响灵敏度E、晶体厚度、准直器的类型会影响灵敏度

3.下列有关系统平面灵敏度的描述，错误的是A、描述探头对源的响应能力B、指某一探头对特定点源的灵敏度C、用单位活度在单位时间内的计数表示D、系统平面灵敏度也称灵敏度E、与准直器的类型、窗宽、源的种类及形状有关

4.SPECT质控主要包括 ( )A、均匀性评价和校正B、旋转中心的决定和校正C、准直器D、像素X、Y增益大小的校正E、显像系统的综合评价

更多“SPECT均匀性校正操作过程错误的一项是A、点源活度0.3~0.5mCi,体积≤1ml,计数率≥30k／sB、将探头准直 ”相关问题

  • 第1题：

    下列有关探头屏蔽性能的描述，错误的是

    A、描述探头对视野之外的源的屏蔽能力

    B、对患者本身FOV之外放射性的屏蔽：用与探头平面的垂直距离为20cm点源，在距探头FOV边缘前后10cm、20cm、30cm的最大屏蔽计数与在 FOV中心处计数率的百分比表示

    C、对周围环境放射性的屏蔽：将点源置于距探头中心1m，距探头两侧及前后2m处。用探头分别朝上、下、左、右时的计数率与FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽性能

    D、屏蔽泄漏一最大屏蔽计数率/FOV中心计数率×100%

    E、探头屏蔽性能反映了患者本身FOV 之外放射性和周围环境放射性这两种影响的程度


    参考答案：C

  • 第2题：

    下列有关计数率特征的描述，错误的是

    A、当视野中的活度较低时，γ相机计数率随活度的增加而增加

    B、当活度增加到一定值时，计数率开始随活度的增加而保持不变

    C、计数率特征是描述计数率随活度的变化特征

    D、由最大观察计数率、20%丢失时观察计数率及观察计数率随活度的变化曲线表示

    E、计数率特征分固有（无准直器，源在空气中）计数率特征和有散射系统（有准直器，源在水中）计数率特征两种情况


    参考答案：B

  • 第3题：

    SPECT的性能测试不包括

    A.旋转中心校正
    B.多探头的匹配
    C.均匀性校正
    D.图像处理软件测试
    E.断层均匀性测试

    答案：D
    解析：

  • 第4题：

    用于测试SPECT计数率特征的源初始放射性活度必须

    A、保证让探测器小于最大计数率

    B、保证让探测器达到最大计数率

    C、保证让探测器达到并超出最大计数率

    D、超出本底计数率100倍以上

    E、超出本底计数率1000倍以上


    参考答案：C

  • 第5题：

    SPECT的性能测试不包括

    A、均匀性校正

    B、旋转中心校正

    C、断层均匀性测试

    D、图像处理软件测试

    E、多探头的匹配


    参考答案：D

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