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写出电子衍射与 X 射线衍射的异同点。
题目
写出电子衍射与 X 射线衍射的异同点。
相似考题
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第1题：
X射线衍射与光学反射不同点有（）。
- A、光学反射完全是表面作用
- B、X射线衍射则深入到晶体内部，其内层原子面也参与反射作用
- C、光学反射可选择任意的入射角
- D、X射线的反射则受布拉格定律制约，即必须满足布拉格定律
正确答案:A,B,C,D -
第2题：
证明电子具有微粒性的实验（）
- A、α粒子的散射实验
- B、电子衍射
- C、阴极射线能推动叶片转动或作功
- D、原子光谱
正确答案:C -
第3题：
X射线与可见光相比，X射线的特性是：（）
- A、能使物质原子电离和
- B、完全透明的光
- C、有干涉现象而无衍射现象
- D、有衍射现象而无干涉现象
正确答案:A -
第4题：
比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。
正确答案:多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理，多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布，因此只需要测角仪与样品检测器为θ～2θ联动，就可检测到晶体参数；而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动，调整单晶的各个晶面产生衍射，检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数，主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布，进而推断出分子的结构。 -
第5题：
单电子衍射实验的结果主要支持了波函数的哪个观点：（）
正确答案:几率解释 -
第6题：
问答题X射线衍射与电子衍射有何异同点？正确答案： 不同点：
A.X射线波长大，衍射角大，可接近90°，电子束波长小，衍射角通常小于90°；
B.电子衍射采用薄晶样品，会使点阵在倒易空间里沿厚度方向拉伸成杆状，增加倒易点阵与反射球相交的机会，使略偏离布拉格衍射角的电子束也能发生衍射；
C.电子波长较小，反射球半径很大，在衍射角范围内的球面可看成平面； d、晶体对电子的散射能力强于对X射线的散射能力，衍射强度高；
E.电子衍射只使用非常薄或微细粉末样品，而X射线衍射对样品的要求较低、
相同点：都需要满足布拉格衍射条件才能发生衍射，都可以进行物相的鉴定，电子衍射的精度更高。解析： 暂无解析 -
第7题：
问答题与X射线衍射相比，（尤其透射电镜中的）电子衍射的特点是什么？正确答案： 1.透射电镜常用双聚光镜照明系统，束斑直径1-2μm，经过双聚光镜的照明束相干性较好。
2.透射电镜有三级以上透镜组成的成像系统，借助它可以提高电子衍射相机长度。
3.可以通过物镜和中间镜的密切配合，进行选区电子衍射，使成像区域和电子衍射区域统一起来，达到样品微区形貌分析和原位晶体学性质测定的目的。解析： 暂无解析 -
第8题：
问答题选区电子衍射的原理及基本操作步骤？正确答案： 1.选区电子衍射的原理：选区电子衍射借助设置在物镜像平面的选区光栏，可以对产生衍射的样品区域进行选择，并对选区范围的大小加以限制，从而实现形貌观察和电子衍射的微观对应，选区光栏用于挡住光栏孔以外的电子束，只允许光栏孔以内视场所对应的样品微区的成像电子束通过。使得在荧光屏上观察到的电子衍射花样，它仅来自于选区范围内晶体的贡献。实际上，选区形貌观察和电子衍射花样不能完全对应，也就是说选区衍射存在一定误差，所选区域以外样品晶体对衍射花样也有贡献。
2.选区衍射操作步骤：
①插入选区光阑，套住欲分析的物相，调整中间镜电流使选区光阑边缘清晰，此时选区光阑平面与中间镜物平面重合；
②调整物镜电流，使选区内物像清晰，此时样品的一次像正好落在选区光阑平面上，即物镜像平面，中间镜物面，光阑面三面重合；
③抽出物镜光阑，减弱中间镜电流，使中间镜物平面移到物镜背焦面，荧光屏上可观察到放大的电子衍射花样；
④用中间镜旋钮调节中间镜电流，使中心斑最小最圆，其余斑点明锐，此时中间镜物面与物镜背焦面相重合；
⑤减弱第二聚光镜电流，使投影到样品上的入射束散焦（近似平行束），摄影（30s左右）。解析： 暂无解析 -
第9题：
问答题产生电子衍射的必要条件与充分条件是什么？正确答案： 产生电子衍射的充分条件是Fhkl≠0，
产生电子衍射必要条件是满足或基本满足布拉格方程。解析： 暂无解析 -
第10题：
问答题分析电子衍射与x射线衍射有何异同？正确答案： 电子衍射与X射线衍射相比具有下列特点：
（1）电子波的波长比X射线短得多，因此，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角度很小，10-2rad，而X射线最大衍射角可达π/2。
（2）电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内，晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向。因为电子波长短，用Ewald图解时，反射球半径很大，在衍射角很小时的范围内，反射球的球面可近似为平面。
（3）电子衍射用薄晶体样品，其倒易点沿样品厚度方向扩展为倒易杆，增加了倒易点和Ewald球相交截面机会，结果使略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
（4）电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。因为原子对电子的散射能力远大于对X射线的散射能力。解析： 暂无解析 -
第11题：
问答题电子衍射技术正确答案： 电子衍射是一种测定表面结构和成分的有效技术。目前，电子衍射一般都在透射电镜中进行解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题简述电子衍射的特点。正确答案： 波长短，受物质的散射强。单晶的电子衍射谱和晶体倒易点阵的二维截面完全相似。衍射束强度有时几乎与透射束相当，因此就有必要考虑它们之间的相互作用，使电子衍射花样分析，特别是强度分析变得复杂，不能象X射线那样从测量强度来广泛地测定晶体结构；散射强度高，电子穿透能力有限，比较适用于研究微晶、表面和薄膜晶体。解析： 暂无解析 -
第13题：
X射线晶体衍射分析为什么采用X射线和晶体？
正确答案:X射线：X射线衍射是研究生物大分子结构最精确，分辨率最高的技术，X射线晶体学所使用的是cuka，其波长为1.5418Å，这个尺度与分子中碳原子质检的键距相当，因此刚好适用于解析分子的结构（原子的量级为1Å，可见光波长为几百纳米量级，要想把分子中原子分辨出来，只能用波长量级为Å的电磁波，X射线恰好满足要求）
晶体：单个分子散射的X射线极其微弱，很难检测。晶体中分子以同样的方式排列，其散射的电磁波可叠加而增强信号到可检测水平 -
第14题：
证明电子具有波动性的著名实验（）
- A、α粒子的散射实验
- B、电子衍射
- C、阴极射线能推动叶片转动或作功
- D、原子光谱
正确答案:B -
第15题：
认为原子核外电子分层排布所依据的实验之一（）
- A、α粒子的散射实验
- B、电子衍射
- C、阴极射线能推动叶片转动或作功
- D、原子光谱
正确答案:D -
第16题：
波长为λ的X射线，投射到晶格常数为d的晶体上，取k=1，2，3，…，出现X射线衍射加强的衍射角θ（衍射的X射线与晶面的夹角）满足的公式为（）。
- A、2dsinθ=kλ
- B、dsinθ=kλ
- C、2dcosθ=kλ
- D、dcosθ=kλ
正确答案:A -
第17题：
问答题试比较单晶和多晶的电子衍射谱，并说明多晶电子衍射谱中环形花样形成的原因。正确答案： 单晶的衍射谱：规则的衍射斑点。
多晶的衍射谱：同心圆环。
形成原因：多晶体由于晶粒数目极大且晶面取向在空间任意分布，倒易点阵将变成倒易球。倒易球与厄瓦尔德球相交后在照相底片上的投影将成为一个个同心圆。解析： 暂无解析 -
第18题：
问答题分别从原理、衍射特点及应用方面比较X射线衍射和透射电镜中的电子衍射在材料结构分析中的异同点。正确答案： 原理：X射线照射晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散射波；晶体内原子呈周期排列，因而各原子散射波间也存在固定的位相关系而产生干涉作用，在某些方向上发生相长干涉，即形成衍射。
特点：
1）电子波的波长比X射线短得多
2）电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内
3）电子衍射中略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射
4）电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。
应用：硬X射线适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析，软X射线可用于非金属的分析。透射电镜主要用于形貌分析和电子衍射分析（确定微区的晶体结构或晶体学性质）解析： 暂无解析 -
第19题：
问答题X射线衍射与透射电子衍射产生的衍射条件有什么不同？适用范围有什么不同？正确答案： 由于电子波长比X射线波长小，由布拉格方程可知，电子的衍射角比X射线的衍射角小，电子波波长很短，一般只有千分之几纳米，电子的衍射角θ很小（一般只有几度）。由于物质对电子的散射作用很强（主要来源于电子的散射作用，远强于物质对X射线的散射作用），因而电子（束）穿进物质的能力大大减弱，电子衍射只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。X射线衍射能准确的测定晶格常数，透射电子衍射的优势在于微区结构的测量。解析： 暂无解析 -
第20题：
问答题X射线衍射与光反射的区别？正确答案： 光反射光在两种物质分界面上改变传播方向又返回原来物质中的现象，叫做光的反射。
X射线的衍射X射线是一种波长很短（约为20～0.06埃）的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用高能电子束轰击金属“靶”材产生X射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识）X射线。解析： 暂无解析 -
第21题：
问答题电子衍射与X射线衍射有哪些区别？可否认为有了电子衍射分析手段，X射线衍射方法就可有可无了？正确答案： 电子衍射与X射线衍射一样，遵从衍射产生的必要条件和系统消光规律，但电子是物质波，因而电子衍射与X射线衍射相比，又有自身的特点：
（1）电子波波长很短，一般只有千分之几nm，而衍射用X射线波长约在十分之几到百分之几nm，按布拉格方程2dsinθ=λ可知，电子衍射的2θ角很小，即入射电子和衍射电子束都近乎平行于衍射晶面；
（2）由于物质对电子的散射作用很强，因而电子束穿透物质的能力大大减弱，故电子只适于材料表层或薄膜样品的结构分析；
（3）透射电子显微镜上配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌有机结合起来，这是X射线衍射无法比拟的特点。
但是，X射线衍射方法并非可有可无，这是因为：X射线的透射能力比较强，辐射厚度也比较深，约为几um到几十um，并且它的衍射角比较大，这些特点都使X射线衍射适宜于固态晶体的深层度分析。解析： 暂无解析 -
第22题：
问答题简要分析X射线衍射和电子衍射的异同点。正确答案： 相同点：
电子衍射和X射线衍射的原理基本相似，即入射晶体后电子成了新的辐射源，向空中发射的散射波产生干涉，在某些固定方向上增强减弱或消失，产生衍射现象。
不同点：
1）电子衍射波的波长短通常加速电压为100~200kv，电子波的波长一般在0.00215~0.00370nm，而X衍射线波长一般为0.05~0.25nm。
2）电子衍射波反射球的半径大。
3）电子波的散射强度高物质对电子的散射比对X射线的散射强度强约106倍。
4）电子衍射可以对微区结构和形貌进行同步分析，X衍射无法进行形貌分析。
5）电子衍射波采用薄晶样品。
6）电子波的衍射斑点位置精度低。解析： 暂无解析 -
第23题：
问答题比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。正确答案： 多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理，多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布，因此只需要测角仪与样品检测器为θ～2θ联动，就可检测到晶体参数；而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动，调整单晶的各个晶面产生衍射，检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数，主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布，进而推断出分子的结构。解析： 暂无解析 -
第24题：
问答题试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。正确答案： 入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光束。
不同：衍射仪法：采用一定发散度的入射线，且聚焦半径随2θ变化，德拜法：通过进光管限制入射线的发散度。试样形状：衍射仪法为平板状，德拜法为细圆柱状。试样吸收：衍射仪法吸收时间短，德拜法吸收时间长，约为10~20h。记录方式：衍射仪法采用计数率仪作图，与计算机连接可实现自动记录和衅谱处理，德拜法采用环带形底片成相，而且它们的强度（I）对（2θ）的分布（I-2θ曲线）也不同，衍射仪图谱中强度或直接测量精度高，且可获得绝对强度；衍射装备：衍射仪结构复杂成本高，德拜法结构简单造价低；应用：衍射仪与计算机连接，通过许多软件可获得各种信息而得到广泛应用。解析： 暂无解析