此题为判断题(对,错)。
1.半机械半电子测量系统不能随着测量点数据的变化而及时地反映出来,需要不断反复测量不同的控制点来确定相关尺寸的正确性,操作比较繁琐,效率较低。()此题为判断题(对,错)。
2.半机械半电子测量系统随着测量点数据的变化而及时地反映出来,无需不断反复测量不同的控制点来确定相关尺寸的正确性,操作简单,效率高。( )此题为判断题(对,错)。
3.轨道式量规不仅每次能测量和记录一对测量点,同时还可以和另外两个控制点进行交叉测量和对比检验。()此题为判断题(对,错)。
4.半机械半电子测量系统在测量中每次可以测量多个控制点,或多个控制点之间的位置参数。( )此题为判断题(对,错)。
第1题:
第2题:
第3题:
16、具有控制全局作用的网点称为 控制点,测定控制点 平面位置 和()的测量称为控制测量。
第4题:
第5题:
具有控制全局作用的网点称为 控制点,测定控制点 平面位置 和()的测量称为控制测量。