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● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中 （39） 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB

题目

● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中 （39） 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。

（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB

相似考题

1.在软件生命周期的不同阶段，需要实施不同类型的测试工作，单元测试是对程序设计进行验证，其中___(39)___不是单元测试的主要内容。在进行单元测试过程中，通常测试工程师都需要借助___(40)___来代替所测模块调用的子模块：在单元测试的基础上，需要将所有模块按照概要设计和详细设计说明书的要求进行组装，模块组装成系统的方式有两种，分别是___(41)___。(39)A．模块接口测试 B．有效性测试 C．路径测试 D．边界测试(40)A．桩模块 B．驱动模块 C．桩模块和驱动模块 D．存根模块和驱动模块(41)A．一次性组装和增殖性组装 B．自顶向下组装和启底向上组装C．单个模块组装和混合模块组装 D．接口组装和功能组装

2.内建测试系统(BIS1)是SoC片上系统的重要结构之一,J1AG测试接口是IC芯片测试方法的标准。()此题为判断题(对，错)。

3.● 审查测试设计是监理方质量控制的重要手段，根据常用的W模型测试策略，在需求分析与系统设计过程中，监理方应审查的相应测试设计为（39） 。（39）A．验收测试设计与性能测试设计B．用户测试设计与集成测试设计C．单元测试设计与集成测试设计D．确认测试设计与系统测试设计

4.UML的设计视图包含了类、接口和协作，其中，设计视图的静态方面由(37)和(38)表现；动态方面由交互图、(39)表现。A．类图B．状态图C．活动图D．用例图

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  • 第1题：

    现代电子设计方法包含了可测试设计，其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。

    A．BIST

    B．JTAG

    C．UART

    D．USB


    正确答案：B
    解析：可测试设计的三个方面是测试生成、测试验证和测试设计。测试生成是指产生验证　IC芯片行为的一组测试码。测试验证指给定测试集合的有效性测度，这通常是通过故障仿真来估算的。测试设计是设计者在电路设计阶段就考虑芯片的测试结构问题，在设计用户逻辑的同时，还要设计测试电路。现代电子设计方法包含可测试设计。内建测试系统(BIST)是SOC片上系统的重要结构之一。JTAG测试接口是IC芯片测试方法的标准。

  • 第2题：

    某公司综合管理信息系统开发项目的WBS分解结构图如图7－5所示。其中①、②、③、④空应该依次填入（ ）。A．架构设计、模块测试、接口测试、集成测试 B．详细设计、黑盒测试、白盒测试、回归测试 C．架构设计、模块测试、功能测试、验收测试 D．详细设计、单元测试、集成测试、系统测试


    正确答案：D
    依题意，在创建工作分解结构(WBS)时，应该把握一些基本原则。其中的一个原则是：同一层次上的活动(或工作包)应该采用相同的分解方式。该开发项目WBS的第2层模块是按第1层模块的生命周期进行分解的。在系统设计阶段，首先进行概要设计(或架构设计)，接着进行详细设计。在系统测试阶段，首先进行单元测试，再进行集成测试，然后进行系统测试。

  • 第3题：

    在软件生命周期的不同阶段，需要实施不同类型的测试工作，单元测试是对程序设计进行验证，其中(39)不是单元测试的主要内容。在进行单元测试过程中，通常测试工程师都需要借助(40)来代替所测模块调用的子模块；在单元测试的基础上，需要将所有模块按照概要设计和详细设计说明书的要求进行组装，模块组装成系统的方式有两种，分别是(41)。

    A．模块接口测试

    B．有效性测试

    C．路径测试

    D．边界测试


    正确答案：B
    解析：本组题考查单元测试和集成测试的基础知识。单元测试的主要内容包括：模块接口测试、局部数据结构测试、路径测试、错误处理测试、边界测试。有效性测试是确认测试的内容。因此试题(39)选B。在单元测试中，桩模块也叫做存根模块，用以代替所测模块调用的子模块，驱动模块相当于所测模块的主程序。因此试题(40)选A。模块组装成为系统的方式有两种方式：一次性组装方式和增殖式组装方式。增殖式组装又分为自顶向下、自底向上以及混合增殖3种方式。因此试题(41)选A。

  • 第4题：

    下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。

    A.JTAG技术是一种嵌入式测试技术

    B.大多数ARM嵌入式处理器芯片不包含JTAG接口

    C.多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试

    D.通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能


    正确答案：B

  • 第5题：

    下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。

    A.JTAG技术为ARM公司专用，非ARM处理器不采用JTAG技术

    B.通过JTAG测试接口可对嵌入式处理器芯片进行测试、对系统进行仿真、调试

    C.多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试

    D.通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能


    正确答案：A

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