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用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
题目
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
A、球面干涉
B、等倾干涉
C、等厚干涉
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第1题：
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。A、球面干涉
B、等厚干涉
C、等倾干涉
参考答案：B
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第2题：
13、牛顿环测量透镜曲率半径实验中，光波波长越长，则（）？
A．同级干涉环直径越大，干涉条纹越疏。
B．同级干涉环直径越大，干涉条纹越密。
C．同级干涉环直径越小，干涉条纹越疏。
D．同级干涉环直径越小，干涉条纹越密。
A -
第3题：
迈克尔孙干涉实验中，干涉仪两平面反射镜严格垂直时，形成等厚干涉条纹。
错误 -
第4题：
若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。A、用刀口尺以光隙法检定
B、用平晶的技术光波干涉法检定
C、用刀口尺以量块比较法检定
参考答案：C
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第5题：
光纤白光干涉测量系统的基本原理是：双光束干涉仪的光程差为零时出现白光干涉条纹，光程差不为零时不出现干涉条纹。
干涉型光纤传感器的基本机理是:在一段单模光纤中传输的相干光,因待测能量场的作用,而产生相位调制。