A对
B错
第1题:
EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低,其原因是()
A树脂对离子的吸收速度随温度的升高而降低
B离子迁移速度随温度的升高而降低
C离子交换树脂对离子的选择性增强
D离子通过膜的扩散能力随温度的升高按指数规律降低
第2题:
如果给水温度过,离子通过膜的扩散能力会按指数规律降低,因此使EDI的除盐能力下降,水质降低。
A对
B错
第3题:
EDI运行压力损失随温度的升高而降低,其主要原因是离子迁移速度随温度的升高而加快。
第4题:
EDI组件实际运行()规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。
第5题:
为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高。
第6题:
如果给水温度过,离子通过膜的扩散能力会按指数规律降低,因此使EDI的除盐能力下降,水质降低。
第7题:
EDI运行压力损失随温度的升高而降低,其主要原因是()。
第8题:
对
错
第9题:
产品水出口有异物堵塞
运行流量增加
离子交换膜结垢
运行温度升高
第10题:
对
错
第11题:
对
错
第12题:
对
错
第13题:
EDI运行压力损失随温度的升高而降低,其主要原因是离子迁移速度随温度的升高而加快。
A对
B错
第14题:
EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。
第15题:
EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。
第16题:
EDI的产品水对给水的压差增加的主要原因是()。
第17题:
EDI组件实际运行()规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。
第18题:
EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。
第19题:
产品水出口有异物堵塞
运行流量增加
离子交换膜结垢或污堵
运行温度升高
第20题:
电流低于
电流高于
压力低于
压力高于
第21题:
电流低于
电流高于
压力低于
压力高于
第22题:
树脂对离子的吸收速度随温度的升高而降低
离子迁移速度随温度的升高而降低
离子交换树脂对离子的选择性增强
离子通过膜的扩散能力随温度的降低按指数规律降低
第23题:
离子迁移速度随温度的升高而加快
水的粘度随温度的升高而降低
树脂对离子的吸收速度随温度的升高而加快
离子通过膜的扩散能力随温度的升高按指数规律升高