A、斜射法
B、水浸法
C、接触法
D、穿透法
1.在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有()。A.探头型式B.晶片尺寸C.波束方向D.上述都有
2.晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()A.垂直法B.斜射法C.表面波法D.K型扫查
3.探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。()此题为判断题(对,错)。
4.超声波探伤,为减少近场长度应选用()的探头。A.低频率B.较小晶片C.低频率和较小晶片D.较大晶片
第1题:
用单晶片探头探伤时,探头只能发射或接收超声波。 ( )
此题为判断题(对,错)。
第2题:
A、反射
B、衍射
C、电振荡
D、衰减
第3题:
第4题:
A、润滑接触面,尽量减少探头的磨损;
B、排除探头与探测面间的空气;
C、晶片与探测面直接接触时就不会产生振动;
D、使探头可靠地接触;
第5题:
A、润滑接触面尽量减少探头磨损
B、排除探头与探测面间的空气
C、晶片与探测面直接接触时就不会振动
D、使探头可靠地接地