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根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

题目

根据上述计算结果，判断过程（ ）。

A.处于统计控制状态和技术控制状态

B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态

C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态

D.未处于统计控制状态和技术控制状态

相似考题

1.分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

2.关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。 A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态 B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态 C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进 D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态

3.分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。 A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态 B.状态II，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态 C.状态III，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态 D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

4.统计控制状态达到，技术控制状态未达到的是( )。A．状态ⅠB．状态ⅡC．状态ⅢD．状态Ⅳ

更多“根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态”相关问题

  • 第1题：

    加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
    下列推断中，正确的是（ ）。
    A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
    B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
    C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
    D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态


    答案：B
    解析：
    。分析用控制图上未显示异常，表明过程处于统计控制状态。Cpk=2/3

  • 第2题：

    关于过程状态的说法，正确的有（ ）。

    A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小

    B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变

    C.过程处于统计控制状态时，CP≥1

    D.异常因素会导致过程失控

    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态


    答案：A,B,D
    解析：
    。处于统计控制状态，只是表明此时可估计过程保证质量的水平，但不能说明过程能力指数大于等于1。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内时，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第3题：

    从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。

    A.过程处于统计控制状态
    B.具有足够的生产能力
    C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
    D.过程处于统计控制状态但过程能力不足


    答案：C
    解析：

  • 第4题：

    关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。

    A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内

    B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布

    C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态

    D.统计控制状态是指过程能力充足的状态

    E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态


    答案：A,B,C
    解析：
    。统计控制状态下的过程并不一定过程能力充足。

  • 第5题：

    在过程控制中，最理想的状态是（ ）。
    A.统计控制状态达到，技术控制状态未达到
    B.统计控制状态未达到，技术控制状态达到
    C.统计控制状态与技术控制状态均达到
    D.统计控制状态与技术控制状态均未达到


    答案：C
    解析：

  • 第6题：

    关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
    A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态
    B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态
    C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态
    D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数Cp
    E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态


    答案：B,D,E
    解析：

  • 第7题：

    加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。

    • A、过程处于统计控制状态和技术控制状态
    • B、过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
    • C、过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
    • D、过程未处于统计控制状态和技术控制状态

    正确答案:B

  • 第8题：

    以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）

    • A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态
    • B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动
    • C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内
    • D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

    正确答案:C

  • 第9题：

    单选题
    分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种(　　)的控制线延长能作为控制用的控制图。
    A

    状态Ⅰ ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态

    B

    状态Ⅱ ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态

    C

    状态Ⅲ ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态

    D

    状态Ⅳ ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    多选题
    根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为（　　）。
    A

    状态Ⅰ，统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态

    B

    状态Ⅱ，统计控制状态未达到，技术控制状态达到

    C

    状态Ⅲ，统计控制状态达到，技术控制状态未达到

    D

    状态Ⅳ，统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态

    E

    状态Ⅴ，统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到


    正确答案： E,C
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。
    A

    过程处于统计控制状态

    B

    具有足够的生产能力

    C

    过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力

    D

    过程处于统计控制状态但过程能力不足


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    在过程控制中，最理想的状态是（　　）。
    A

    统计控制状态达到，技术控制状态未达到

    B

    统计控制状态未达到，技术控制状态达到

    C

    统计控制状态与技术控制状态均达到

    D

    统计控制状态与技术控制状态均未达到


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为（ ）。
    A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态
    B.状态II，统计控制状态未达到，技术控制状态达到
    C.状态III，统计控制状态达到，技术控制状态未达到
    D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态
    E.状态V，统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到


    答案：A,B,C,D
    解析：

  • 第14题：

    下列不属于消防控制室不能远程手动启停风机的故障原因是（ ）。


    A.与多线控制盘配套用的切换模块损坏
    B.多线控制盘未解锁处于“手动禁止”状态
    C.风机控制柜处于“手动”状态
    D.风机的控制柜未处于“手动”状态

    答案：D
    解析：
    故障现象：消防控制室不能远程手动启停风机，原因分析： （1）专用线路发生故障； （2）多线控制盘按钮接触不良或多线控制盘损坏； （3）与多线控制盘配套用的切换模块线路发生故障或模块损坏； （4）多线控制盘未解锁处于“手动禁止”状态，或风机控制柜处于“手动”状态； （5）风机及控制柜发生故障。

  • 第15题：

    控制图上点出界，则表明（ ）。[2007年真题]
    A.过程处于技术控制状态 B.过程可能存在异常因素
    C.小概率事件发生 D.过程稳定性较好
    E.过程未处于统计控制状态


    答案：B,C,E
    解析：
    控制图的判异准则有两类：①点出界就判异；②界内点排列不随机判异。控制图上点出界表明小概率事件发生，则过程出现异常，即过程未处于统计控制状态。

  • 第16题：

    使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。
    A.需要重新计算控制限
    B.该子组中一定有不合格品
    C.可判定过程处于统计失控状态
    D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设


    答案：C
    解析：
    。点子出界即判异。

  • 第17题：

    关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。
    A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品
    B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1
    C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态
    D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动
    E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的


    答案：C,D,E
    解析：
    。过程处于统计控制状态时，过程能力有可能不满足要求，所以选项A、B 错误。

  • 第18题：

    加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
    μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
    根据上述计算结果，判断过程（）。
    A.处于统计控制状态和技术控制状态
    B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
    C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
    D.未处于统计控制状态和技术控制状态


    答案：B
    解析：

  • 第19题：

    分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种（）的控制线延长能作为控制用的控制图。

    • A、状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态
    • B、状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态
    • C、状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态
    • D、状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

    正确答案:A

  • 第20题：

    从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。

    • A、过程处于统计控制状态
    • B、具有足够的生产能力
    • C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
    • D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

    正确答案:C

  • 第21题：

    单选题
    从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（　　）。[2006年真题]
    A

    过程处于统计控制状态

    B

    具有足够的生产能力

    C

    过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力

    D

    过程处于统计控制状态但过程能力不足


    正确答案： C
    解析：
    统计过程控制（Statistical Process Control，简称SPC）主要解决两个基本问题：一是过程运行状态是否稳定，二是过程能力是否充足。则一个合格的过程应当使过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力。

  • 第22题：

    单选题
    以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）
    A

    过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态

    B

    过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动

    C

    过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内

    D

    过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    多选题
    控制图上点出界，则表明（　　）。[2007年真题]
    A

    过程处于技术控制状态

    B

    过程可能存在异常因素

    C

    小概率事件发生

    D

    过程稳定性较好

    E

    过程未处于统计控制状态


    正确答案： C,A
    解析： 控制图的判异准则有两类:①点出界就判异；②界内点排列不随机判异。控制图上点出界表明小概率事件发生，则过程出现异常，即过程未处于统计控制状态。

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