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有5个不可修复产品进行寿命试验,它们发生失效的时间分别是1000h,1500h,2000h,2200h,2300h,该产品的MTTF观测值是( )。

题目

有5个不可修复产品进行寿命试验,它们发生失效的时间分别是1000h,1500h,2000h,2200h,2300h,该产品的MTTF观测值是( )。


相似考题
参考答案和解析
正确答案:A
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  • 第1题:

    设有4件不可修复产品寿命试验,失效时间分别为800h, 1200h, 500h, 1500h,则产品的平均失效前时间MTTF为( )。
    A. 800h B. 1000h C. 700h D. 1500h


    答案:B
    解析:
    设N0个不可修复的产品在同样条件下进行试验,测得其全部失效时间为t1,t2,…,tN0,则其平均失效前时间(MTTF)为:

  • 第2题:

    在产品的失效时间服从指数分布,f(t)=λ﹣λt,λ>0时,有( )。

    A.R(t)=1-e-λt

    B.MTBF=1/λ

    C. MTTF=MTBF

    D.失效率为λ

    E. MTBF=MTTR


    答案:B,C,D
    解析:
    。R(t)=e-λt所以选项A错误。

  • 第3题:

    下列参数中,度量可修复产品的维修性参数是( )。
    A. MTBF B. MTTR C. λ(失效率) D. MTTF


    答案:B
    解析:
    度量可修复产品的维修性参数是平均修复时间MTTR。

  • 第4题:

    对于不可修复的电子产品而言,产品平均寿命是指该产品从开始使用到()的平均时间。


    正确答案:发生失效

  • 第5题:

    关于寿命试验时间的错误说法是()。

    • A、在受试产品没有出现故障时,试验的最长工作时间应是规定寿命值的15倍。
    • B、在受试产品没有出现故障时,试验的最长工作时间应是规定寿命值的1.5倍。
    • C、对于寿命鉴定试验要持续到要求的寿命时终止。
    • D、如果试验时间较长,针对较好或较差产品可采用序贯截尾方法来减少试验时间

    正确答案:A

  • 第6题:

    属于连续型数据的有()

    • A、产品故障的修复时间
    • B、产品寿命
    • C、产品发生故障的时间
    • D、一批产品的不合格数

    正确答案:A,B,C

  • 第7题:

    对于可修复产品,其平均寿命是指产品从开始工作到发生失效前的平均工作时间。


    正确答案:错误

  • 第8题:

    平均寿命的数学表达是指产品()。

    • A、发生失效前的工作时间
    • B、发生失效后的工作时间
    • C、两次相邻故障之间的工作时间
    • D、平均无故障工作时间
    • E、产品工作到报废的时间

    正确答案:A,C,D

  • 第9题:

    对可修产品,从一次故障到下一次故障的时间均值,称为平均寿命,记为MTTF( )


    正确答案:错误

  • 第10题:

    单选题
    可修复产品的平均寿命是指()。
    A

    产品工作至报废的时间

    B

    中位寿命

    C

    平均无故障工作时间

    D

    产品发生失效前的工作时间


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    多选题
    平均寿命的数学表达是指产品()。
    A

    发生失效前的工作时间

    B

    发生失效后的工作时间

    C

    两次相邻故障之间的工作时间

    D

    平均无故障工作时间

    E

    产品工作到报废的时间


    正确答案: E,D
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    单选题
    设对3个不可修复产品进行寿命试验,它们发生失效的时间分别是500 h,1 000 h,1 500 h,产品的MTTF观测值是(  )h。
    A

    1 000

    B

    1 500

    C

    4 500

    D

    500


    正确答案: D
    解析: MTTF=(500+1 000+1 500)/3=1 000h

  • 第13题:

    有一批电子产品累计工作10万小时,发生故障50次,该产品的MTBF的观测值是()。
    A. 1800h B. 1900h C. 2000h D. 2100h


    答案:C
    解析:
    已知N0=50次,T = 10万小时,根据,可知该产品的MTBF的观测值是:MTBF = 100000/50 = 2000h。

  • 第14题:

    设有4件不可修复产品进行寿命试验,失效时间分别为800 h,1 200 h, 500 h, 1 500 h,则产品的平均失效前时间MTTF为( )。
    A.800 h B.1000 h
    C. 700 h D.1500 h


    答案:B
    解析:

  • 第15题:

    某电子产品的寿命服从指数分布,为估计该产品的MTBF,进行定时截尾寿命试验,即试验进行到规定的时间停止,在对产品的MTBF进行区间估计时,必须用到的量有( )。
    A.投入寿命试验的产品数
    B.所有投入试验产品的试验时间总和,即累计试验时间
    C.正态分布临界值
    D. x2的分布临界值
    E.发生的故障数


    答案:D,E
    解析:
    设定时截尾试验时间为T*,出现的故障数为r,于是MTBF的点估计值θ为θ=
    自由度为2r +2的x2分布的γ分位点。所以,在对产品的MTBF进行区间估计时,必须用到的量有出现的故障数r和x2的分布临界值。

  • 第16题:

    期望寿命(E/T)(平均寿命)、对于不可修复的产品


    正确答案: 平均寿命是指产品失效前的平均工作时间。 记为MTTF。对于可修复的产品:平均寿命是指产品平均无故障时间。记为MTBF

  • 第17题:

    关于寿命试验故障的错误说法是()。

    • A、对于可修复产品,凡发生在耗损期内并导致产品翻修的耗损性故障为关联故障。
    • B、对于不可修复的产品,发生在耗损期内的耗损性故障和偶然故障均为关联故障
    • C、如果产品在要求的寿命期内未出现耗损故障,则证明产品达到要求的寿命值。
    • D、对于可修和不可修复的产品,发生在耗损期内的偶然故障均为关联故障。

    正确答案:D

  • 第18题:

    求下列寄存器组合所寻址的存储单元地址: (1)DS=1000H,DI=2000H  (2)SS=2300H,BP=3200H  (3)DS=A000H,BX=1000H (4)SS=2900H,SP=3A00H


    正确答案:(1)12000H
    (2)26200H
    (3)A1000H
    (4)2CA00H

  • 第19题:

    ()是工作到某时刻t时尚未失效的产品,在该时刻t以后的下一个单位时间内发生失效的概率。

    • A、失效率
    • B、失效值
    • C、失效
    • D、失效性

    正确答案:A

  • 第20题:

    不可修复产品的平均寿命是指()。

    • A、产品工作至报废的时间
    • B、平均无故障工作时间
    • C、产品发生失效前的工作时间
    • D、两次相邻故障之间的工作时间

    正确答案:C

  • 第21题:

    可修复产品的平均寿命是指()。

    • A、产品工作至报废的时间
    • B、中位寿命
    • C、平均无故障工作时间
    • D、产品发生失效前的工作时间

    正确答案:B

  • 第22题:

    单选题
    不可修复产品的平均寿命是指()。
    A

    产品工作至报废的时间

    B

    平均无故障工作时间

    C

    产品发生失效前的工作时间

    D

    两次相邻故障之间的工作时间


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    填空题
    对于不可修复的电子产品而言,产品平均寿命是指该产品从开始使用到()的平均时间。

    正确答案: 发生失效
    解析: 暂无解析