有5个不可修复产品进行寿命试验,它们发生失效的时间分别是1000h,1500h,2000h,2200h,2300h,该产品的MTTF观测值是( )。
第1题:
第2题:
第3题:
第4题:
对于不可修复的电子产品而言,产品平均寿命是指该产品从开始使用到()的平均时间。
第5题:
关于寿命试验时间的错误说法是()。
第6题:
属于连续型数据的有()
第7题:
对于可修复产品,其平均寿命是指产品从开始工作到发生失效前的平均工作时间。
第8题:
平均寿命的数学表达是指产品()。
第9题:
对可修产品,从一次故障到下一次故障的时间均值,称为平均寿命,记为MTTF( )
第10题:
产品工作至报废的时间
中位寿命
平均无故障工作时间
产品发生失效前的工作时间
第11题:
发生失效前的工作时间
发生失效后的工作时间
两次相邻故障之间的工作时间
平均无故障工作时间
产品工作到报废的时间
第12题:
1 000
1 500
4 500
500
第13题:
第14题:
第15题:
第16题:
期望寿命(E/T)(平均寿命)、对于不可修复的产品
第17题:
关于寿命试验故障的错误说法是()。
第18题:
求下列寄存器组合所寻址的存储单元地址: (1)DS=1000H,DI=2000H (2)SS=2300H,BP=3200H (3)DS=A000H,BX=1000H (4)SS=2900H,SP=3A00H
第19题:
()是工作到某时刻t时尚未失效的产品,在该时刻t以后的下一个单位时间内发生失效的概率。
第20题:
不可修复产品的平均寿命是指()。
第21题:
可修复产品的平均寿命是指()。
第22题:
产品工作至报废的时间
平均无故障工作时间
产品发生失效前的工作时间
两次相邻故障之间的工作时间
第23题: