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扫描电镜分析中的背散射电子像可以确定样品表面存在的化学元素种类。
题目
扫描电镜分析中的背散射电子像可以确定样品表面存在的化学元素种类。
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第1题：
扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。()
参考答案：×
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第2题：
卢瑟福背散射分析中，入射离子与靶原子碰撞的运动学因子、（）和（）是背散射分析中的三个主要参量。
正确答案:散射截面；能量损失因子 -
第3题：
背散射电子
正确答案:是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。 -
第4题：
电子散射少、对样品损伤小、可用于观察活细胞的电子显微镜是（）
- A、普通透射电镜
- B、普通扫描电镜
- C、超高压电镜
- D、扫描透射电镜
- E、分析扫描电镜
正确答案:C -
第5题：
在扫描电镜中的高能电子束与样品互相作用后，从样品中激发出各种信息。对于宝石工作者最常用的是哪3中信息：（）、（）、（）。
正确答案:二次电子，背散射电子，特征X射线 -
第6题：
填空题卢瑟福背散射分析中，入射离子与靶原子碰撞的运动学因子、（）和（）是背散射分析中的三个主要参量。正确答案： 散射截面,能量损失因子解析： 暂无解析 -
第7题：
问答题二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？正确答案： 二次电子像：
1）凸出的尖棱，小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大。
2）平面上的SE产额较小，亮度较低。
3）在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子，使其不易被控制到，因此相应衬度也较暗。
背散射电子像：
1）用BE进行形貌分析时，其分辨率远比SE像低。
2）BE能量高，以直线轨迹逸出样品表面，对于背向检测器的样品表面，因检测器无法收集到BE而变成一片阴影，因此，其图象衬度很强，衬度太大会失去细节的层次，不利于分析。因此，BE形貌分析效果远不及SE，故一般不用BE信号。解析： 暂无解析 -
第8题：
单选题背散射电子特征是（）A其能量与入射电子的能量相近，运动方向受收集极电场的影响
B背散射电子发射量随元素表面原子的原子序数的增加而增加
C背散射电子不随元素表面原子的原子序数的变化而变化
D背散射电子能量与入射电子的能量相差很大
正确答案： A解析： 暂无解析 -
第9题：
问答题背散射电子像有什么特点？背散射电子像的用途？正确答案： （1）背散射电子能量高，接近入射电子E0；试样中产生范围大，像分辨率低。
（2）背散射电子发射系数η：
η=IB/I0
IB背散射电子强度；I0——入射电子强度。
背散射电子发射系数η随原子序数增加而增大；但背散射电子发射系数η受入射束能量影响不大；当试样表面倾角增加时，将显著增加背散射电子发射系数η；
利用背散射电子像来研究样品表面形貌和成分分布。解析： 暂无解析 -
第10题：
问答题电子探针与扫描电镜有何异同？电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析？正确答案： 电子探针用于成分分析、形貌观察，以成分分析为主；扫描电镜同样用于形貌观察、成分分析，但以形貌观察为主。解析： 暂无解析 -
第11题：
单选题电子散射少、对样品损伤小、可用于观察活细胞的电子显微镜是（）A普通透射电镜
B普通扫描电镜
C超高压电镜
D扫描透射电镜
E分析扫描电镜
正确答案： E解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题透射电镜、扫描电镜有哪些电子显微图像？在这些电子显微像中各包含有哪些信息？各用什么衬度理论解释？它们的明亮处是怎样形成的？正确答案： 透射电镜：
1、电子显微图像：衍衬像
包含信息：晶体的缺陷。
衬度理论解释：衍射衬度。
明亮处形成原因：当强度为I0的入射电子束照射试样时不同的晶粒对入射X射线的衍射不同。
2、电子显微图像：高分辨率像
包含信息：层状晶体结构，晶格，晶界，晶体结构中的各种缺陷，晶体表面结构单个空位、层错、畴界面和表面处的原子组态等。
衬度理论解释：相位衬度。
明亮处形成原因：相位差。
扫描电镜：
1、电子显微图像：背散射电子像
包含信息：背散射电子信号中包含了试样表面形貌和原子序数信息。
衬度理论解释：原子序数衬度，形貌衬度。
明亮处形成原因：试样表面的倾角不同。
2、电子显微图像：二次电子像
包含信息：反映试样表面的形貌特征。
衬度理论解释：电压衬度。
明亮处形成原因：信号强度随θ角增大；凸尖、台阶边缘—亮度高；平坦、凹谷—暗。
3、电子显微图像：吸收电子像
包含信息：包含成分与形貌两种信息。
衬度理论解释：原子序数衬度。
明亮处形成原因：吸收电子像不存在阴影效应。解析： 暂无解析 -
第13题：
仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是
A、背散射电子
B、二次电子
C、吸收电子
D、透射电子
E、俄歇电子
参考答案：B
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第14题：
为什么透射电镜和扫描电镜对样品厚度与大小的要求有如此大的差异？能否用扫描电镜来观察样品的内部结构，而用透射电镜来观察样品的表面结构？
正确答案: （1）透射电子显微镜的成像原理类似于普通光学显微镜，作为光源的电子束在成像时要穿透样品。由于电子束的穿透力有限，因此在进行透射电镜观察时要求样品一定要薄。而扫描电镜的成像原理类似于电视或电传真照片，图像是通过收集样品表面被激发的二次电子形成的，因此对样品的厚度并无特别的要求。
（2）扫描电镜一般被用于观察样品的表面结构，但通过样品制备过程中的冰冻蚀刻技术，用扫描电镜也可观察到样品的内部结构，获得立体的图像。
（3）透射电镜一般通过超薄切片技术观察样品的内部结构，但通过样品制备过程中的复型技术，用透射电镜也可对样品的表面结构进行观察。 -
第15题：
电子探针与扫描电镜有何异同？电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析？
正确答案:电子探针用于成分分析、形貌观察，以成分分析为主；扫描电镜同样用于形貌观察、成分分析，但以形貌观察为主。 -
第16题：
SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的（）。
- A、方解石
- B、斜长石
- C、角闪布
- D、石英
正确答案:D -
第17题：
判断题扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第18题：
填空题背散射电子的产额与样品的原子序数的关系是原子序数越小，背散射电子产额越（）。正确答案： 低解析： 暂无解析 -
第19题：
问答题背散射电子像有什么特点？正确答案： （1）背散射电子能量高，接近入射电子E0；试样中产生范围大，像分辨率低。
（2）背散射电子发射系数η：
η=IB/I0
IB——背散射电子强度；I0——入射电子强度。
背散射电子发射系数η随原子序数增加而增大；但背散射电子发射系数η受入射束能量影响不大；当试样表面倾角增加时，将显著增加背散射电子发射系数η。解析： 暂无解析 -
第20题：
问答题背散射电子像有什么用途？正确答案： 利用背散射电子像来研究样品表面形貌和成分分布。解析： 暂无解析 -
第21题：
问答题简述扫描电镜中二次电子像的成像原理。正确答案： 二次电子像又叫表向形貌衬度，由于来照射样品表面时，激发表层原子产生二次电子，二次电子——与表向形貌特点密切相关，由于各处表向形貌不同，二次电子的——不同，二次电子的——不同，——信号强度也不同，在显示器上显示具有明暗——的衬度像。解析： 暂无解析 -
第22题：
多选题在扫描电镜分析中（）A成分像能反映成分分布信息，形貌像和二次电子像反映形貌信息
B所有扫描电镜像，只能反映形貌信息
C形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮，平坦和凹谷处最暗
D扫描电镜分辨率比透射电镜高
正确答案： C,D解析： 暂无解析 -
第23题：
单选题电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（）A背散射电子
B俄歇电子
C特征X射线
正确答案： B解析： 暂无解析 -
第24题：
单选题仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（）。A背散射电子
B二次电子
C吸收电子
D透射电子
E俄歇电子
正确答案： E解析： 暂无解析