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下列组合中错误的是A.RMS——颗粒性B.DQE——噪声等价量子数C.MTF——分辨力D.WS——维纳频谱E.ROC—受试者操作特性曲线

题目

下列组合中错误的是

A.RMS——颗粒性

B.DQE——噪声等价量子数

C.MTF——分辨力

D.WS——维纳频谱

E.ROC—受试者操作特性曲线

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1.下列组合错误的是A、RMS--颗粒性B、DQE--噪声等价量子数C、MTF--分辨力D、WS--维纳频谱E、ROC--受试者操作特性曲线

2.非晶态硒平板探测器的成像性能,错误的是()。A.分辨力高B.DQE和MTF高C.图像层次丰富D.刷新速度快，利于动态摄影E.动态范围大

3.关于维纳频谱的叙述，错误的是A、维纳频谱即Wiener spectrum，(WS)B、△D(x)的自相关函数的付氏变换为WSC、用WS分析形成X线照片斑点的原因D、维纳频谱可以确定不同频率的RMSE、维纳频谱也称量子检出效率

4.关于X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度

更多“下列组合中错误的是A.RMS——颗粒性B.DQE——噪声等价量子数C.MTF——分辨力D.WS——维纳频谱E.ROC—受试 ”相关问题

  • 第1题：

    对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是

    A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况

    B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况

    C、常用的检测方法有RMS的测量

    D、常用的检测方法有维纳频谱的测量

    E、MTF用米测量颗粒度


    参考答案：E

  • 第2题：

    噪声等价量子数是

    A、NEQ

    B、DQE

    C、RMS

    D、ROC

    E、SNR


    参考答案：A

  • 第3题：

    下列组合错误的是

    A.RMS-颗粒性
    B.DQE-噪声等价量子数
    C.MTF-分辨力
    D.WS-维纳频谱
    E.ROC-受试者操作特性曲线

    答案：B
    解析：
    DQE是量子检测效率。

  • 第4题：

    关于X线照片质量客观评价方法的叙述，错误的是

    A．WS——维纳频谱

    B．DQE——量子检出效率

    C．MTF——调制传递函数

    D．LSF——点扩散函数

    E．ACF——自相关函数


    正确答案：D

  • 第5题：

    对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是

    A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况

    B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况

    C．常用的检测方法有RMS的测量

    D．常用的检测方法有维纳频谱的测量

    E．MTF用来测量颗粒度


    正确答案：E
    E。MTF是焦点的调制传递函数。

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